【資優鑑定】國小一般智能資賦優異學生鑑定安置初選報名資格定期評量採計調整案
發佈者 :
蔡資料組長
說明:
一、依據本市特殊教育學生鑑定及就學輔導會決議辦理。
二、旨案鑑定初選報名資格採計之定期評量範圍,調整如下:
(一)二升三年級(甲組):採計一年級下學期最後1次暨二年級
上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學定期評量成
績。
(二)四升五年級(乙組):採計三年級下學期最後1次暨四年級
上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學及自然科學定
期評量成績。
一、依據本市特殊教育學生鑑定及就學輔導會決議辦理。
二、旨案鑑定初選報名資格採計之定期評量範圍,調整如下:
(一)二升三年級(甲組):採計一年級下學期最後1次暨二年級
上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學定期評量成
績。
(二)四升五年級(乙組):採計三年級下學期最後1次暨四年級
上學期第1次,由學校舉辦之國語文、數學及自然科學定
期評量成績。
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